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        結構光測量技術

        簡要描述:結構光測量技術
        使用提前設計好的具有特殊結構的圖案:離散光斑、條紋光、編碼結構光等,將圖案投影到三維空間物體表面上, 使用另外一個相機觀察在三維物理表面成像的畸變情況。

        • 產品品牌:其他品牌
        • 廠商性質:代理商
        • 更新時間:2022-12-01
        • 訪  問  量:569

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        組件類別其他應用領域醫療衛生,環保,化工,電子,綜合

        結構光測量技術

        使用提前設計好的具有特殊結構的圖案:離散光斑、條紋光、編碼結構光等,將圖案投影到三維空間物體表面上, 使用另外一個相機觀察在三維物理表面成像的畸變情況。觀察到的結構光圖案就會因為物體表面不同的幾何形狀而 產生不同的扭曲變形,而且根據距離的不同而不同,根據已知的結構光圖案及觀察到的變形,就能根據算法計算被 測物的三維形狀及深度信息

        線結構光應用場景

        小功率字線結構光光源

        技術指標


        光學參數
        波長nm450,520,638,808
        功率WS3
        扇角°30,45,60,75,90,其他角度可定制
        線寬mm1(FWHM)
        工作距離mm500~3000
        均勻度
        75%
        直線度
        <0.1%
        電學參數
        輸入電壓VDC5,12
        控制模式
        TTL外觸發, 高電平開
        觸發上升沿US10
        響應頻率KHz10
        調制占空比
        30%
        激光防護
        ESD, 過壓, 過流保護
        其他參數
        外形尺寸mmΦ20x60
        工作溫度-20-50
        儲存溫度-40-80


        注1、所有技術指標均為常溫25℃下測量

        注2、工作距離處的最佳線寬,測量值為全高半寬(FWHM)

        注3、均勻度定義為

        注4、直線度定義為

        注5、可選擇增加模擬控制模式

        高功率字線結構光模塊/系統

        SLM系列產品是專為結構光源集成應用而設計的緊湊型結構光模塊,其超高的激光亮度、卓/越的光學性能以及穩定 可靠的結構設計,可滿足各種極限的應用場景。SLS系列集成了驅動電源,24V直流供電,通過TTL觸發信號接口與 相機同步工作。

        特征:

        1. 峰值功率最高可達45 瓦

        2. 80%以上的亮度均勻性

        3. 接近衍射極限的線寬特性

        4. 最遠可達5米的工作距離

        5. IP65 防護等級

        應用:

        1. 3D 機器視覺

        2. 室外工業檢測

        3. 軌道交通檢測

        4. 公路道路檢測

        5. 其他高速檢測場合




        SLS-205LS-45
        光學參數
        波長nm808,915±10
        功率W20≤45
        扇角°30,45,60,75,90,其他角度可定制
        線寬2mm1(FWHM)
        工作距離mm500~5000
        均勻度3
        75%
        直線度4
        ≤0.1%
        電學參數
        輸入電壓VDC12~24
        系統功耗W<50<100
        控制模式5
        TTL外觸發, 高電平開
        觸發上升沿us10
        響應頻率KHz30
        調制占空比
        30%
        激光防護
        ESD, 過壓, 過流保護
        電氣接口
        4芯航插 1DC+ 2GND 3TTL+ 4TTL-
        其他參數
        外形尺寸mm132x84x48162x100x600
        工作溫度-20~50
        儲存溫度-40~80


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